全内反射熒光顯微術(TIRFM)的定位解決方案

在全内反射熒光顯微術(TIRFM)中,激光束成平角射在顯微鏡載片、微量滴定闆或培養皿的玻璃闆上,以激發熒光。

然而,激光束的電磁場可以穿透玻璃闆另一側上的樣品體積,形成一個穿透深度為100至200納米之間的漸逝場。由于Z方向上受激區域的減少,Z向分辨率比标準的寬場或共聚焦熒光顯微術要高。本例中,Z向分辨率一般為500納米。這就是為什麼熒光顯微術中經常使用TIRFM作為一種相對簡單又便宜的超分辨方法。

設定臨界入射角

為了達到這一目的,在物鏡邊緣以特定角度垂直地移動一個帶反射鏡和透鏡的輻射籠,以實現用于TIRF熒光激發的激光束的耦合。這可以通過兩個>>Q-545 Q-Motion®精密線性平台來完成。由于其壓電慣性原理,它們可提供納米級精度的高位置分辨率,而且結構緊湊,最重要的是價格便宜。控制是通過>>E-872.401 驅動器電控來實現的

  • 緊湊型設計
  • 納米級高定位分辨率
  • 快速定位

樣本的高精度定位

PILine® XY位移平台快速定位平面上的樣本,精度達十分之一微米,由>>C-867 PILine®運動控制器進行控制。
具有極低外形、高精度的PInano® XYZ壓電陶瓷系統可安裝在PILine®平台上,例如>>P-545.3R8S。它們在三個維度上都可實現1納米的定位精度(X、Y和Z)。為了深入觀察和顯像,它在X和Y方向上執行納米步進,以掃描整個樣本。極其精細的運動使得Z向上可進行三維測量,從而實現焦點的相關位移。此外,PInano®還可配備非常快速可靠的>>E-727控制器,實現低噪聲定位。

下載

手冊

顯微鏡的納米定位

快速、緊湊、納米級
版本/日期
BRO28E R5D
版本/日期
BRO28CN 2018-12
文件語言
pdf - 8 MB
pdf - 13 MB
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