并行性是經濟型光子學包裝和測試的關鍵所在。

矽光子學(SiP)對于滿足世界對數據的需求至關重要。 PI開創性的新工業技術正使之成為現實。無論是測試還是包裝,PI自動化子系統都可助其SiP制造商及其原始工具設備制造商高效可靠地測試和包裝該新一代光子學設備,且可實現所需的納米級高精度和高産量。做到這一點的關鍵之處在于,在多個互動輸入輸出和自由度之間,PI具有獨一無二的能力,可同時進行自動化快速對準,通常能在幾百毫秒以内實現全局優化。 由于這種内在并行性,之前需用來确定多通道SiP部件的方向以進行測試和包裝的耗時疊代方法已被淘汰,由此節約的時間可超兩個數量級。由于不同的設備和産品應用呈現出不同的要求,PI的模塊化架構提供多種方案,幾乎能滿足所有産品測試和包裝需求。

多個輸入輸出和自由度之間實現快速同時對準
并行性可将全局優化時間改善100倍
高效算法可将處理時間縮短至0.6秒以内
所有常見操作系統都支持本軟件
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