适用于SiP生産的快速光學校準

光電技術與半導體技術的完美融合必将帶來數據吞吐量、并聯能力和能源效率的飛躍。目前,設計和材料方面的難題已經成功解決。擺在科研人員面前的難題是,如何實現測試與封裝。矽光電元件的測試與封裝需要納米級的校準,而這是無法通過視覺或機械參考來實現的。相反,必須優化光通量本身。 此外,SiP設計通常采用具有多路交互輸入和輸出的多條并行光徑,這些都需要進行優化。從經濟效益和光學的角度而言,這些優化應當同步完成。然而迄今為止,還沒有技術能夠實現這一目标。

解決方案

 

作為一家擁有幾十年經驗的半導體工業高精度供應商,PI (Physik Instrumente)現已推出了一款可滿足多自由度平行光學對準要求的系統,這是SiP部件大批量生産中向前邁出的決定性的一步。 FMPA(快速多通道光子學對準)系統基于一個由一台高速壓電掃描儀、一套微定位系統(XYZ型或6軸六足位移台)和一個配置基于固件的程序、用于光學對準的高性能控制器所構成的組合。


PI在2015年的美國西部光電展中首次展示了該系統。此系統經曆了大西洋兩岸研發團隊的持續改進,且基于自動化光子學對準領域中100人年積累起來的知識。


下載

手冊

光學元件和矽光子元件的對準

快速多通道光子學系統
版本/日期
BRO57E 2017-10
版本/日期
BRO57CN 2018-11
文件語言
pdf - 8 MB
pdf - 20 MB
成功故事

光子學部件的自動測試

快速、精确、适用于工業
版本/日期
pi1161E
文件語言 English
pdf - 572 KB
白皮書

并聯對準自動化的實際示例

版本/日期
WP4010E 2018-04
版本/日期
WP4010CN 2018-12
文件語言
pdf - 1 MB
pdf - 786 KB
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